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21 thg 8, 2024 · 芯片漏电点定位及分析（EMMI/OBIRCH，显微光热分布，FIB-SEM）设备原理EMMI（Emission Microscope）原理在于使用高增益相机或探测器捕捉半导体器件缺陷或失效时 …
20 thg 7, 2025 · PEM（Photo Emission Microscope，也称EMMI）是一种高效且精确的微光显微镜技术，专门用于半导体器件和电路的失效分析。 其基本原理在于侦测IC内部所放出的微小光 …
混凝土扫描电镜怎么看混凝土扫描电镜（Scanning Electron Microscope，SEM）可以用来观察混凝土中的微观结构和化学成分分布情况。具体步骤如下：1. 制备样品：首先需要将混凝土样品 …
最典型的传统显微镜由以下基本部件组成： The typical conventional microscope consists at minimum of the following component parts: eyepiece 目镜 body tube镜筒 coarse adjustment粗 …
The microscope contains a few hundred dollars-worth of electronic bits and bobs. 4、电子显微镜利用电子束形成高倍影像。 The electron microscope uses a beam of electrons to produce …
名词解释：TEM透射电子显微镜（英语：Transmission electron microscope，缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变 …
2 thg 9, 2015 · Microscopy is the technical field of using microscopes to view objects.
20 thg 11, 2024 · 半导体器件失效分析是现代电子技术中不可或缺的一环，其中激光扫描显微技术（IR-OBIRCH）和光发射显微技术（PEM）以其独特优势，在快速、准确地定位器件失效缺陷 …
显微镜的英文：microscope英文发音： [ˈmaɪkrəskəʊp]复数：microscopes例句：If you look at the paper under a microscope you will see the fibres.
23 thg 10, 2023 · SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别主要是名称不同、工作原理不同、作用不同、 一、名称不同 1、SEM，英文全称：Scanning electron microscope，中文称：扫 …
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